拿一个极其强大的显微镜到晶体管，你会看到改变电流的微小缺陷。

根据本月发表在“应用物理快报”杂志上的研究报告，这些缺陷会破坏单个电子的电流。虽然目前没有任何硬件利用这种所谓的单电子效应，但Phys.org报告说，有朝一日可以利用这种现象，根据其随机分布的缺陷，为每块硬件提供独特的“量子指纹”。

内置识别

在将这些微小的制造误差用于识别设备之前，需要做很多事情。也许最重要的是，在绝对零度即宇宙的理论最低温度附近的温度下检测单电子效应更容易。根据这个故事，它可以在室温下进行，但目前这种方法太昂贵而无法使用。

“到目前为止，单电子设备还没有广泛的应用，”东芝物理学家Tatsufumi Tanamoto告诉Phys.org。“我们的研究开启了一种使用单电子效应的不同方式：作为安全装置。安全的重要性日益增加。“